美國NI LCR 儀表 LCR 儀表 PXle-4190
名稱:LCR測試儀
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簡介:LCR 儀表PXle-4190 可測量并測試電子設備的電感、電容和電阻(LCR)。它包括一個具有 fF 級電容測量的 LCR 表和一個具有 fA 級電流測量的精密源測量單元(SMU)。您可以在電容-電壓/電流-電壓(CV/IV)自動測試系統...
LCR 儀表
PXle-4190 可測量并測試電子設備的電感、電容和電阻(LCR)。它包括一個具有 fF 級電容測量的 LCR 表和一個具有 fA 級電流測量的精密源測量單元(SMU)。您可以在電容-電壓/電流-電壓(CV/IV)自動測試系統中使用 PXle-4190儀表,其可用于半導體應用,包括集成無源設備(IPD)、微電子機械系統(MEMS)、多層陶瓷電容器(MLCC)和參數測試。此外,PXle-4190還受到NI-DCPower儀器驅動程序的支持,其中包括用于 LabVIEW、C、C#.NET、Python和其他編程語言的 API。


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